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在電子信息化社會中，電子技術(shù)和微電子技術(shù)是最為基礎(chǔ)的技術(shù)支撐。電子技術(shù)廣泛應(yīng)用于國民經(jīng)濟(jì)的各個領(lǐng)域，是信息社會的重要基石。合適且優(yōu)秀的電子產(chǎn)品不僅僅是性能出類拔萃，耐用、使用壽命長也是對電子產(chǎn)品的另外一項重要的考核指標(biāo)。對電子與微電子材料的選材與設(shè)計、并進(jìn)行力學(xué)測試分析，關(guān)系著電子與微電子產(chǎn)品設(shè)計的發(fā)展。
凱爾測控針對電子/微電子材料可提供：靜態(tài)拉伸/壓縮強度試驗、動態(tài)疲勞使用壽命試驗、三點彎壓縮試驗、四點彎壓縮試驗、平板拉伸試驗、動/靜態(tài)扭轉(zhuǎn)試驗、側(cè)向力剪切試驗、3維DIC樣品變形試驗、2維引伸計應(yīng)變測量/云圖繪制、高低溫環(huán)境下的材料性能變化。
推薦產(chǎn)品：大型電磁式動態(tài)力學(xué)試驗系統(tǒng)
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低溫環(huán)境下電路板靜態(tài)拉斷試驗
M-3000配合低溫環(huán)境箱共同使用，能完成低溫環(huán)境下的電路板拉斷試驗的模擬。3000N的載荷量程搭配自制楔形夾具能滿足大部分試驗低溫靜態(tài)試驗。為模擬產(chǎn)品在低溫環(huán)境下正常運行提供了重要數(shù)據(jù)支持。
